대학원 colloquium에서는 5월 21일(월) 오후 4시(6교시)
KAIST 전산학부 김문주 교수님을 모시고 아래의 내용으로
세미나가 진행됩니다.
관심있는 여러분의 많은 참석을 바랍니다.
(대학원세미나는 학부생 누구나 참가하실 수 있습니다).

Time
4:00-5:30 PM, 21 May (Mon)
 
Location
NTH 310 CSEE Seminar Room
 
Speaker
Prof. Moonzoo Kim, School of Computing, KAIST
 
Title
SW 오류 검출을 위한 테스트케이스 자동 생성 기술:  Concolic Testing
Abstract
4차 산업시대의 핵심 기술인 SW의 품질 및 안정성을 향상하기 위해, 
다양한 SW 테스팅 기술들이 연구되어 왔다. 그 중 복잡한 대상 SW의 
소스코드를 분석하여, SW 오류를 효과적으로 검출하는 테스트케이스를 
자동으로 생성하는 Concolic (CONCrete + symbOLIC) 테스팅 기술에 
대해 살펴본다.
 
Bio
김문주 교수는 2001년 Univ. of Pennsylvania 에서 박사학위 취득후 
시큐아이 및 POSTECH 에서 연구를 수행하고 2006년 KAIST 
전산학과에 부임하였다. 김문주 교수는 자동화된 SW 테스팅기법을
통해 복잡한 내장형 SW의 신뢰성을 향상시키는 연구를 삼성전자,
LG전자, 현대자동차의 제품에 적용하여 수백여건의 심각한 오류를
검출하였다. 또한 세계적으로 연구성과를 인정받아 정보과학회
소프트웨어 공학분야 최우수 국제학회인  ASE, FSE, ICSE 에 10여편
논문을 발표했고, ICST 2018 우수논문상을  수상하였으며
ICSE New Faculty Symposium 2016 co-chair, ASE 2015 및 ICST 2016학회
publication co-chair, 그리고 3년 (2014-2016) 연속 ICSE PC 위원을
역임하는 등 활발한 국제연구활동을 수행 중이다.
Host
Prof. Shin Hong
홍신 드림
출처: Hisnet 공지사항, 작성자: shong(홍신)
[대학원 세미나 (5/21)] SW 오류 검출을 위한 테스트케이스 자동 생성 기술: Concolic Testing